安捷倫科技推出全新離子阱質(zhì)譜儀 (2004-04-08)
發(fā)布時(shí)間:2007-12-04
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來(lái)源:儀器信息網(wǎng)
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3月31日,安捷倫科技宣布一款代表安捷倫最高水平的離子阱質(zhì)譜??LC/MSD Trap XCT預計將于今年7月正式投放市場(chǎng)。安捷倫科技離子阱質(zhì)譜產(chǎn)品經(jīng)理Ken Imatani介紹說(shuō),此款儀器采用了非線(xiàn)性離子阱質(zhì)譜技術(shù),靈敏度較其前一代同類(lèi)產(chǎn)品提高了4倍。該型質(zhì)譜可廣泛應用于諸如新藥開(kāi)發(fā)、疾病研究過(guò)程中的生物標記鑒別等領(lǐng)域。LC/MSD Trap XCT采用了全新的檢測器技術(shù)和改進(jìn)后的生產(chǎn)工藝,對于利血平的檢測靈敏度可達250飛克。