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        NIST發(fā)布《半導體生態(tài)系統中的計量差距:建立芯片研發(fā)計量計劃的第一步》報告

        發(fā)布時(shí)間:2023-06-12 作者: 來(lái)源: 瀏覽:2655

        2023年6月5日,NIST發(fā)布《半導體生態(tài)系統中的計量差距:建立芯片研發(fā)計量計劃的第一步報告,指出半導體行業(yè)面臨的計量挑戰,以及芯片研發(fā)計量計劃的創(chuàng )建、發(fā)展和戰略重點(diǎn)。旨在通過(guò)先進(jìn)的測量、標準化、建模和仿真來(lái)加強美國半導體產(chǎn)業(yè)。報告指出了影響半導體生態(tài)系統中計量差距10個(gè)優(yōu)先重點(diǎn)領(lǐng)域,以解決美國微電子工業(yè)的最高優(yōu)先級計量差距。報告指出計量是所有芯片研發(fā)計劃的基礎,將與其他芯片研發(fā)項目緊密相連。

        、計劃概述

        2022年8月,《芯片法案》向商務(wù)部撥款500億美元,用于美國半導體生產(chǎn)和研究。其中390億美元用于激勵半導體制造業(yè),包括建設、擴大或更新美國晶圓廠(chǎng)等;110億美元用于半導體的研發(fā),在美國創(chuàng )建一個(gè)充滿(mǎn)活力的半導體創(chuàng )新生態(tài)系統,包括美國國家半導體技術(shù)中心(NSTC)、國家先進(jìn)封裝制造計劃(NAPMP)和三個(gè)美國制造業(yè)研究所,以推進(jìn)半導體技術(shù)的研究和商業(yè)化。

        《芯片法案》支持計量通過(guò)微電子研究和開(kāi)發(fā)下一代測量科學(xué)方法、標準和制造方法,在恢復美國在半導體行業(yè)的領(lǐng)導地位方面發(fā)揮關(guān)鍵作用。該法案規定了芯片研發(fā)計劃中的計量活動(dòng),要求NIST建立一個(gè)計量計劃,通過(guò)多學(xué)科的研發(fā)工作來(lái)加強美國半導體行業(yè)。

        、美國半導體生態(tài)系統面臨的關(guān)鍵計量挑戰

        2022年9月的《美國半導體行業(yè)的戰略機遇》報告,確定了從計量學(xué)角度需要重點(diǎn)關(guān)注的7大挑戰,以實(shí)現美國領(lǐng)導的全球半導體行業(yè)的未來(lái)國家愿景。到2022年11月,芯片研發(fā)計量計劃將其投資組合進(jìn)一步細化為10個(gè)優(yōu)先重點(diǎn)領(lǐng)域,以解決最關(guān)鍵的計量研發(fā)缺口。七大挑戰及對應優(yōu)先重點(diǎn)領(lǐng)域如下:

        重大挑戰

        行業(yè)/產(chǎn)業(yè)缺口

        戰略重點(diǎn)

        優(yōu)先重點(diǎn)領(lǐng)域

        1.材料純度、性能和來(lái)源的計量

        通過(guò)開(kāi)發(fā)新的測量和標準,滿(mǎn)足不同供應鏈對半導體材料純度、物理性能和來(lái)源的日益嚴格的要求

        開(kāi)發(fā)專(zhuān)注于缺陷和污染物識別的測量技術(shù)、性能數據和標準,以支持整個(gè)供應鏈統一的材料質(zhì)量和可追溯性

        先進(jìn)材料和設備計量

        2.面向未來(lái)微電子制造的先進(jìn)計量技術(shù)

        確保關(guān)鍵計量技術(shù)的進(jìn)步與前沿和未來(lái)的微電子和半導體制造并駕齊驅?zhuān)瑫r(shí)保持美國的競爭優(yōu)勢

        推進(jìn)物理和計算計量工具,以適應先進(jìn)的復雜、集成技術(shù)和系統的下一代制造

        先進(jìn)材料和設備計量

         

        納米結構材料表征計量學(xué)

        3.在先進(jìn)封裝中實(shí)現集成組件的計量

        提供跨越多個(gè)長(cháng)度刻度的計量和物理特性,以加速未來(lái)一代微電子產(chǎn)品的先進(jìn)封裝

        發(fā)展精密元器件與新材料的復雜集成計量,支撐強大的國內先進(jìn)微電子封裝產(chǎn)業(yè)

        適用于3D結構和設備的高級計量技術(shù)

         

        先進(jìn)封裝的材料表征計量

        4.半導體材料、設計和元件的建模與仿真

        改進(jìn)對未來(lái)半導體材料、工藝、器件、電路和微電子系統設計進(jìn)行有效建模和模擬所需的工具

        使用多物理模型和下一代概念(如人工智能和數字孿生)創(chuàng )建先進(jìn)的設計模擬器,使美國微電子設計師能夠勝任

        高級模型的驗證和確認

        5.半導體制造過(guò)程的建模與仿真

        無(wú)縫建模和模擬整個(gè)半導體制造過(guò)程,從材料輸入到芯片制造、系統組裝和最終產(chǎn)品

        開(kāi)發(fā)先進(jìn)的計算模型、方法、數據、標準、自動(dòng)化和工具,使國內半導體制造商能夠提高產(chǎn)量,加快上市時(shí)間,增強競爭力

        面向下一代制造流程的高級建模

        6.微電子新材料、工藝和設備的標準化

        規范支持和加快微電子和先進(jìn)信息通信技術(shù)發(fā)展和制造的方法

        為下一代材料、工藝和設備創(chuàng )建標準、驗證工具和協(xié)議,為美國工業(yè)加速創(chuàng )新和提高成本競爭力鋪平道路

        高級測量服務(wù)

         

        設備和軟件的互操作性標準

         

        自動(dòng)化、虛擬化和安全性標準

        7.計量增強微電子元件和產(chǎn)品的安全性和來(lái)源

        創(chuàng )造必要的計量進(jìn)步,以增強供應鏈中微電子組件和產(chǎn)品的安全性和來(lái)源,并增加信任和保證。

        尋求一種全面的硬件安全保護方法,包括標準、協(xié)議、正式測試流程和先進(jìn)的計算技術(shù),同時(shí)為供應鏈和最終產(chǎn)品中的微電子組件提供保證和來(lái)源。

        供應鏈信任和高級計量的保障

         

        、優(yōu)先發(fā)展重點(diǎn)領(lǐng)域,確保美國在半導體領(lǐng)域的領(lǐng)導力

        NIST通過(guò)利益相關(guān)者參與和內部規劃收集的數據證實(shí),行業(yè)、學(xué)術(shù)界和政府組織需要在半導體設計和制造價(jià)值鏈的所有階段采用更先進(jìn)的計量方法,包括實(shí)驗室的基礎和應用研發(fā)、大規模原型設計、工廠(chǎng)制造以及組裝、封裝和性能驗證等,列出了10個(gè)優(yōu)重點(diǎn)領(lǐng)域,以解決美國微電子工業(yè)的最高優(yōu)先級計量差距。10個(gè)優(yōu)先重點(diǎn)領(lǐng)域分為兩類(lèi),分別為:

        1.自動(dòng)化、虛擬化和安全性:

        1)供應鏈信任和高級計量的保障

        2)高級模型的驗證和確認

        3)面向下一代制造流程的高級建模

        4)自動(dòng)化、虛擬化和安全性標準

        5)設備和軟件的互操作性標準

        2.下一代微電子計量:

        1)先進(jìn)材料和設備計量

        2)納米結構材料表征計量學(xué)

        3)高級測量服務(wù)

        4)適用于3D結構和設備的高級計量技術(shù)

        5)先進(jìn)封裝的材料表征計量

        、我國的啟示和建議

        半導體對美國的國家安全、經(jīng)濟增長(cháng)、以及公共健康安全至關(guān)重要。半導體的革命性進(jìn)步繼續推動(dòng)通信、信息技術(shù)、醫療保健、軍事系統、交通、能源和基礎設施領(lǐng)域的創(chuàng )新。隨著(zhù)設備變得更復雜、更小和多層,并提供前所未有的性能,半導體創(chuàng )造轉型變革的潛力正在成倍增加。

        而發(fā)展半導體的真正挑戰是計量,計量在半導體制造步驟中扮演著(zhù)重要角色,計量進(jìn)步是加速半導體行業(yè)創(chuàng )新的基礎。從實(shí)驗室的基礎和應用研發(fā)到概念驗證、大規模原型制作、工廠(chǎng)制造、組裝和包裝,以及最終部署前的性能驗證,半導體技術(shù)發(fā)展的所有階段都需要計量。計量和標準在美國芯片研發(fā)創(chuàng )新中的地位舉足輕重,作為美國國家標準與技術(shù)研究院,NIST是研發(fā)創(chuàng )新的引領(lǐng)者,NIST在開(kāi)發(fā)半導體制造的計量工具、標準和方法方面發(fā)揮著(zhù)關(guān)鍵作用。通過(guò)《芯片法案》,美國政府批準了支持美國半導體制造、研發(fā)和供應鏈安全的激勵措施和計劃。國會(huì )已明確授權并撥款加速NIST下一代微電子的計量研發(fā),以實(shí)現立法目標。

        該報告是NIST建立和擴大計量研發(fā)計劃的重要路線(xiàn)圖,以支持美國半導體行業(yè)下一代微電子的重點(diǎn)戰略。通過(guò)推進(jìn)測量科學(xué)、標準和技術(shù),促進(jìn)美國的創(chuàng )新和工業(yè)競爭力。可以看出,美國希望通過(guò)解決計量挑戰,推動(dòng)美國半導體行業(yè)發(fā)展,將美國定位為下一代微電子所必需的計量領(lǐng)域的全球領(lǐng)導者。

        近年來(lái),我國半導體產(chǎn)業(yè)在國家科技計劃和政策支持下取得了快速發(fā)展。面對國際半導體產(chǎn)業(yè)的新競爭格局,我國應積極應對,制定半導體領(lǐng)域發(fā)展戰略和協(xié)同措施,做好近、中、遠期重點(diǎn)任務(wù)的統籌和協(xié)調。重視計量在半導體中的地位和作用,加大科技投入,建立我國半導體領(lǐng)域國家計量戰略科技力量,充分發(fā)揮國家級計量科研機構的引領(lǐng)作用,集中優(yōu)勢力量加快計量研發(fā)和創(chuàng )新速度,實(shí)現我國在半導體領(lǐng)域的科技自立自強。

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